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應(yīng)用分享 | 布魯克三維X射線顯微鏡在油氣地質(zhì)領(lǐng)域的應(yīng)用

更新時(shí)間:2024-09-11點(diǎn)擊次數(shù):1475

布魯克三維X射線顯微鏡(3D X-ray Microscopy, 3D XRM)在地質(zhì)油氣領(lǐng)域的應(yīng)用極為普遍,能夠?yàn)閹r石、沉積物和流體行為的研究提供高分辨率的三維成像。這項(xiàng)技術(shù)在巖石物理、儲(chǔ)層特性分析和微觀結(jié)構(gòu)研究中具有重要的應(yīng)用價(jià)值。

應(yīng)用概述

布魯克三維X射線顯微鏡通過X射線掃描樣品,生成其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率三維圖像。它能夠在不破壞樣品的前提下,提供詳細(xì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,對(duì)油氣地質(zhì)研究具有重要意義。

主要應(yīng)用領(lǐng)域

一、巖石孔隙結(jié)構(gòu)分析

孔隙率與滲透率測(cè)定:三維X射線顯微鏡可以精確測(cè)量巖石樣品的孔隙度和滲透率,幫助研究人員了解儲(chǔ)層的儲(chǔ)存和流動(dòng)特性。

孔隙網(wǎng)絡(luò)建模:生成巖石的三維孔隙網(wǎng)絡(luò)模型,以便研究流體在孔隙中的流動(dòng)路徑和特性,優(yōu)化油氣開采策略。

--巖芯內(nèi)部孔隙三維空間分布表征及定量分析

二、儲(chǔ)層特性研究

巖石微觀結(jié)構(gòu):三維X射線顯微鏡能夠清晰展示巖石的微觀結(jié)構(gòu),包括礦物組成、裂縫和孔隙的分布,為儲(chǔ)層特性研究提供詳細(xì)數(shù)據(jù)支持。

流體分布和遷移:通過三維X射線顯微鏡技術(shù),可以觀察儲(chǔ)層中的流體分布和遷移規(guī)律,提供開發(fā)和管理儲(chǔ)層的新見解。 

--巖芯內(nèi)部滲透率模擬分析

三、巖石力學(xué)特性分析

應(yīng)力和裂縫分布:三維X射線顯微鏡可以分析巖石在不同應(yīng)力條件下的裂縫分布和演變,評(píng)估巖石的力學(xué)特性和穩(wěn)定性。

破裂過程研究:通過動(dòng)態(tài)掃描,可以研究巖石在受力過程中的破裂行為和裂縫擴(kuò)展路徑,為油氣開采中的裂縫誘導(dǎo)提供科學(xué)依據(jù)。

--巖芯力學(xué)原位實(shí)驗(yàn),圍壓過程動(dòng)態(tài)表征

四、沉積環(huán)境重建

沉積物層理分析:三維X射線顯微鏡可以對(duì)沉積物層理進(jìn)行精細(xì)成像,揭示沉積環(huán)境和沉積過程。

古環(huán)境重建:通過分析巖石和沉積物的內(nèi)部結(jié)構(gòu),重建古代沉積環(huán)境,指導(dǎo)油氣勘探和開發(fā)。 

--海姆砂巖鹽殼沉積過程模擬表征

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

高分辨率成像:提供納米級(jí)到微米級(jí)的高分辨率三維成像,能夠細(xì)致呈現(xiàn)巖石和沉積物內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

無損檢測(cè):對(duì)樣品進(jìn)行無損掃描,使樣品保持完整,適用于需要多次研究的樣品。

三維可視化:生成樣品的三維圖像,提供全部的內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,便于分析和解釋。

定量分析:可對(duì)成像數(shù)據(jù)進(jìn)行精確的定量分析,如孔隙度、滲透率和裂縫密度等參數(shù)的測(cè)量。 

應(yīng)用實(shí)例

砂巖儲(chǔ)層孔隙結(jié)構(gòu)研究:利用三維X射線顯微鏡對(duì)砂巖儲(chǔ)層進(jìn)行成像,分析其孔隙結(jié)構(gòu)和連接性,幫助優(yōu)化注水開發(fā)方案。

頁巖氣藏裂縫分析:通過三維顯微鏡成像,研究頁巖氣藏中的微裂縫分布和導(dǎo)流能力,評(píng)估壓裂效果。

碳酸鹽巖儲(chǔ)層評(píng)價(jià):顯微鏡技術(shù)用于碳酸鹽巖儲(chǔ)層分析,揭示其復(fù)雜的孔隙和裂縫系統(tǒng),為儲(chǔ)層開發(fā)提供科學(xué)指導(dǎo)。

布魯克三維X射線顯微鏡在地質(zhì)油氣領(lǐng)域的應(yīng)用,不僅提升了對(duì)儲(chǔ)層特性和巖石行為的認(rèn)識(shí),還為提高油氣勘探和開發(fā)效率提供了堅(jiān)實(shí)的技術(shù)支持。我們歡迎地質(zhì)、石油和天然氣領(lǐng)域的研究人員與我們聯(lián)系,了解更多關(guān)于三維X射線顯微鏡技術(shù)的應(yīng)用和服務(wù)詳情。 

(注:以上數(shù)據(jù)及圖片來自于Bruker公司資料)

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