技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLESLexsyg釋光探測器|在材料表征科研領(lǐng)域應用分享新型AlN陶瓷紫外線劑量測定研究突破:lexsyg儀器助力精確捕捉太陽光與X射線輻照差異文章來源:https://doi.org/10.2478/lpts-2021-0001隨著紫外線(UV)輻射對人體健康的影響日益受到關(guān)注,開發(fā)高靈敏度的紫外線劑量材料成為科研熱點。近期,拉脫維亞大學研究團隊在《AlN+Y?O?陶瓷對太陽光與X射線輻照的熱釋光響應》研究中取得重要進展,揭示了氮化鋁(AlN)陶瓷在紫外線劑量測定中的潛力,而實驗...
原位降壓和強制對流過程中水合物重新分布的演變由大連理工大學的關(guān)大偉等教授刊登在ScienceDirect上的論文,通過降壓法和滲流實驗結(jié)合CT成像技術(shù)觀察分析了水合物生長和分解過程中樣品內(nèi)部的變化;文章深入研究了多孔介質(zhì)中天然氣水合物的分解現(xiàn)象及其對儲層內(nèi)部水合物分布和形態(tài)變化的影響;文章闡明了天然氣水合物開采過程中氣-水輸運對水合物分布模式的影響機理,對制定天然氣水合物開采戰(zhàn)略具有重要意義。本篇研究所用設備為布魯克Micro-CTSKYSCAN2214以下是文章成果摘要:引...
關(guān)鍵詞:高分辨率三維X射線顯微成像技術(shù),桌面型高分辨率三維X射線顯微鏡,XRM,纖維取向,孔隙缺陷分布,微觀結(jié)構(gòu),非破壞性三維成像,高精度成像技術(shù),CMOS探測器,桌面級設備,三維X射線顯微斷層掃描,MicroCT,數(shù)字巖石,微觀結(jié)構(gòu)解析摘要高分辨率計算機顯微斷層掃描是科學領(lǐng)域的重要方向,它與多種實驗方法密切相關(guān),并為高級計算物理研究奠定基礎,在這些研究中,高分辨率圖像被用作不同科學模擬模型的輸入。本文呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)集包括使用布魯克Skyscan1272X射線斷層掃描儀獲得的(原...
在科學研究與工業(yè)檢測的廣袤天地里,微焦點CT技術(shù)應用廣泛。而其能否勝任動態(tài)過程觀測這一關(guān)鍵使命,正成為諸多領(lǐng)域關(guān)注的焦點。微焦點CT具備高分辨率成像的特質(zhì),能夠清晰捕捉樣品內(nèi)部細微結(jié)構(gòu),當應用于動態(tài)過程觀測時,這一能力至關(guān)重要。以材料熱變形研究為例,在加熱過程中,材料內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)歷經(jīng)復雜演變,從晶粒生長、位錯滑移,到微孔洞的萌生與匯聚,微焦點CT憑借其出色的空間分辨本領(lǐng),可將這些變化細節(jié)一一呈現(xiàn),為深入理解材料熱變形機制提供直觀依據(jù)。時間分辨率是衡量動態(tài)觀測能力的關(guān)鍵標尺,微...
在單晶材料的研究和應用領(lǐng)域,定向儀的準確性至關(guān)重要。然而,隨著科技的飛速發(fā)展,全自動化單晶定向儀的出現(xiàn),不僅在測量精度上達到了新的高度,更在測量速度方面實現(xiàn)了質(zhì)的飛躍,改變了傳統(tǒng)的手動或半自動定向儀的局面。傳統(tǒng)手動或半自動定向儀在測量過程中,需要人工進行諸多操作。從樣品的加載、角度的調(diào)整,到數(shù)據(jù)的讀取和記錄,每一個步驟都需要耗費大量的時間和精力。而且,由于人為操作的限制,可能會出現(xiàn)操作不精準、重復測量等情況,進一步降低了測量效率。例如,在調(diào)整晶體角度時,操作人員需要憑借經(jīng)驗和...
在現(xiàn)代無損檢測與成像領(lǐng)域,高分辨率CT和微焦點CT都扮演著重要角色,它們雖同屬CT技術(shù)范疇,但在成像原理上卻存在著一些具體的區(qū)別。高分辨率CT主要通過X射線源發(fā)射出相對較寬的扇形X射線束,穿透被檢測物體后,由對面的探測器接收衰減后的射線信號。其成像原理基于不同物質(zhì)對X射線的吸收差異,通過計算機對大量投影數(shù)據(jù)的處理,重建出物體內(nèi)部的二維或三維圖像。在這個過程中,重點在于利用廣泛的射線覆蓋范圍和高精度的數(shù)據(jù)采集,以獲取物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細信息,從而實現(xiàn)高分辨率的成像效果。這種成像方...
二維材料的面內(nèi)-面外聯(lián)動解決方案|掠入射x射線衍射分析單層和超薄WS2薄膜(XRD)布魯克X射線部門孟璐介紹薄膜器件的功能高度依賴于其結(jié)構(gòu)特性。X射線衍射(XRD)和x射線反射法(XRR)是研究薄膜的無損檢測技術(shù)。檢測信號反饋了結(jié)構(gòu)特性,如膜層厚度、界面粗糙度和電子密度,以及亞納米精度的晶體特性。當薄膜厚度在單層范圍內(nèi)時,使用實驗室x射線衍射儀研究這些薄膜尤其具有挑戰(zhàn)性,需要應用掠入射技術(shù)從薄膜中獲得信號。WS2是下一代二維電子器件中很有前途的候選者。其高載流子遷移率和與厚度...
在材料科學、化學研究等眾多領(lǐng)域,光電子能譜儀憑借光電子能譜實現(xiàn)元素的定量分析。光電子能譜儀的核心在于其利用光子與物質(zhì)相互作用激發(fā)光電子的原理。當一束特定能量的單色光照射到樣品表面時,樣品中的原子或分子吸收光子能量,將束縛態(tài)電子激發(fā)為光電子逸出體外。由于不同元素具有電子結(jié)構(gòu),其內(nèi)層電子結(jié)合能各異,這就使得光電子攜帶了樣品元素的“身份標識”。在元素定量分析過程中,首先通過高精度的光譜探測系統(tǒng)收集逸出的光電子。這些光電子進入能量分析器,依據(jù)其動能進行篩選與分辨。因為光電子的動能等于...
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